7nm图形晶圆缺陷检测系统
本单截止日期：长期有效
发布日期：2025-03-17
产品详细说明
我们的设备应用于200mm和300mm晶圆的7nm集成电路的前道制造，它具有 高产率、高灵敏度暗场缺陷检测的特征，是提升和控制产线良率的理想工具。 系统使用DUV光源、超大数值孔径光子采集聚焦镜头，缺陷检测灵敏度以及产率达到了行业同类产品的先进水平。与该产品相关的多项发明专利在申请中。
采购清单
| 数量/预计数量 | 目标单价(元) | 所在地 |
|---|---|---|
| 价格面议 | 江苏常州市 |
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采购商信息
会员类型：免费会员
是否通过认证：身份未认证
通过汇智检采购平台累计
在线采购次数：121
成功发布询价单数：2
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截止日期 长期有效
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